尼康顯微鏡STED和STORM超分辨率成像中的比較

受激發(fā)射損耗顯微鏡（STED和基態(tài)耗盡的相關(guān)技術(shù)（GSD和飽和結(jié)構(gòu)照明（SSIM）被稱為合奏聚焦光成像技術(shù)，并且是基于通常需要多個(gè)高的應(yīng)用的非線性光學(xué)效應(yīng)的-intensity脈沖激光器與專門(mén)調(diào)制濾波器來(lái)控制激發(fā)光束的幾何體（一技術(shù)通常被稱為點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)工程 ）。STED儀器利用類似的激光掃描共焦顯微鏡的光柵掃描成像方案。與此相反，隨機(jī)光學(xué)重構(gòu)顯微鏡（STORM）是依賴于激活整個(gè)分子群體依次形象，以時(shí)間為依據(jù)個(gè)人定位發(fā)射器的一個(gè)有限的子集的單分子的方法。這種互動(dòng)教程探討的相似和STED和風(fēng)暴顯微鏡的差異。

本教程初始化一對(duì)出現(xiàn)在顯示核心（深灰色）窗口虛擬細(xì)胞和周?chē)募?xì)胞質(zhì)（淺灰色）的。光開(kāi)關(guān)熒光表示在細(xì)胞作為綠色的小球。 為了操作教程，點(diǎn)擊自動(dòng)按鈕，調(diào)整速度控制。 隨著STED細(xì)胞掃描激發(fā)和枯竭激光器（綠色和橙色）的組合，在STORM細(xì)胞熒光依次光敏化，本地化，和光漂白（標(biāo)有+符號(hào)）。 需要注意的是受激發(fā)射損耗是掃描技術(shù)，而STORM是一個(gè)隨機(jī)的技術(shù)，單分子的圖像子集。（奧林巴斯顯微鏡）