尼康顯微鏡集成電路檢測(cè)

 探索與反射光共聚焦顯微鏡集成電路的實(shí)時(shí)共聚焦成像。 說明本教程的操作被賦予小程序窗口下方。

本教程模擬了使用尼康OPTIPHOT 200C IC檢測(cè)共聚焦顯微鏡集成電路成像。 使用選擇的集成電路下拉菜單中選擇一個(gè)芯片的圖像。 然后使用聚焦深度滑塊通過顯微鏡可見，通過各種焦平面砸焦點(diǎn)。 點(diǎn)擊藍(lán)色箭頭按鈕，滑塊的左側(cè)和右側(cè)將切換至在一個(gè)訂單中的圖像。